賽默飛CID檢測器檢測原理是怎樣的

點擊次數:226  更新時間2022-01-06  【關閉

       CID是一種電荷注入器件,其基本結構與CCD相似,也是一種MOS結構,當柵極上加上電壓時,表面形成少數載流子的勢阱,入射光子在勢阱鄰近被吸收時,產生的電子被收集在勢阱里,其積分過程與CCD一樣。

      賽默飛CID檢測器使用簡單,操作容易,無需設置調整,無需用戶校準,樣品不需處理,穩定可靠,使用成本低便于攜帶等特點。具有可直接顯示分析結果和金屬類型、對/錯鑒別,快速分類、黑色以及有色金屬近似定量分析和等級鑒別,利用預置的通用或特別工作曲線,可作單基體或多基體分析,可以按照具體樣品和用戶的要求進一步制作工作曲線,以滿足特殊工藝或材質的要求等功能??梢詳y帶到需要做可靠的金屬鑒別或金屬分類的任何地方,適合于現場金屬分析 。是一種全新概念的金屬分析儀。

      賽默飛CID檢測器檢測原理是把光生電荷轉移出去再檢測,由于電荷轉移出去后,MOS電容中不再有電荷,所以叫破壞型讀出方式。CID是在每個檢測單元上直接測,測量完畢后,光生電荷仍然存儲在MOS電容中(可以參看下面的檢測過程),所以叫非破壞型讀出方式。
      CID與CCD的主要區別在于讀出過程,在CCD中,信號電荷必須經過轉移,才能讀
      出,信號一經讀取即刻消失。而在CID中,信號電荷不用轉移,是直接注入體內形成電流
      來讀出的。即每當積分結束時,去掉柵極上的電壓,存貯在勢阱中的電荷少數載流子(電子)被注入到體內,從而在外電路中引起信號電流。
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